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簡要描述:QptLux SD是一款創(chuàng)新性的光學表面瑕疵檢測,具備高重復性和準確性,系統(tǒng)根據設定的檢驗標準自動生成詳細的通過/失敗報告,與光學行業(yè)現(xiàn)在很多的具有很強主觀性的人工檢驗以及其他手動檢驗設備相比,提供光學表面質量控制性能,可以廣泛用于光學元件生產、出貨控制、進料檢驗等過程。
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光學表面瑕疵檢測特點:
高重復性的表面缺陷檢測和表征
對如下表面質量標準進行評估:
- MIL-PRF-13830B
- ISO 10110-7 可見性標準 (含 ISO 14997)
- ISO 10110-7 尺寸標準 (含 ISO 14997)
全自動手動檢測模式
一個裝載周期內多個零件的批量檢測
零件預掃描和排除光圈設置
帶有缺陷掃描的合格、失敗報告
保存并加載物料
光學表面瑕疵檢測檢測優(yōu)勢 :
按照行業(yè)標準進行檢測
提供可追溯的檢測結果
排除檢測主觀性
縮減檢測時間
避免過度檢測
商業(yè)優(yōu)勢
建立對產品表面質量的信心
增加產量
實現(xiàn)并支持正在進行的過程改進
將檢測能量擴展到多有表面質量標準
產品咨詢
傳真:010-68214292
郵箱:gloria.yang@opcrown.com
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